Предназначен для исследования повторяющихся импульсных сигналов пико-, нано- и микросекундной длительности, измерения параметров неоднородностей в коакснальнополосковых СВЧ трактах с волновым сопротивлением 50 Ом импульсным методом (режим рефлектометра), определения ПХ радиоустройств.

Имеет два режима работы - осциллографический и рефлектометрический. В режиме импульсного рефлектометра позволяет определить коэффициент отражения импульса от данной неоднородности, расстояние до нее и характер неоднородности с высокой разрешающей способностью (1 см по расстоянию между двумя соседними неоднородностями в линиях с воздушным диэлектриком).

Отраженные от неоднородностей линий сигналы наблюдаются на экране осциллографа. Цифровой отсчет позволяет оперативно и с большой точностью определять местоположение неоднородностей.

Основные данные

 Полоса пропускания 0-10 ГГц
 Коэффициент отклонения 5-200 мВ/дел
 Коэффициент развертки 20 нс/дел-0,5 мке/дел
 Погрешность коэффициентов отклонения и развертки ±5%

Режим рефлектометра

 Время нарастания фронта зондирующего импульса, наблюдаемого на экране, <70 пс
 Диапазон измеряемых коэффициентов отражения 0,005-1
 Разрешающая способность по расстоянию-1 см (в линиях с воздушным заполнением)
 Погрешность цифрового отсчета расстояний (временных интервалов) ±3%
 Максимальное расстояние до измеряемых неоднородностей (для линий с воздушным заполнением) 750 м